Wprowadzenie
Spektrofotometr UV-Vis serii U.S. Solid JFUVS łączy niezawodny jednowiązkowy układ optyczny ze zoptymalizowaną konstrukcją o długiej ścieżce i systemem sterowania opartym na architekturze ARM. Zapewnia dokładne i stabilne pomiary w zakresie ultrafioletu i światła widzialnego, dzięki czemu nadaje się do rutynowych analiz laboratoryjnych, kontroli jakości, badań naukowych i laboratoriów edukacyjnych.
Przyrząd może działać niezależnie, bez konieczności korzystania z komputera, i obsługuje pomiary fotometryczne, analizę ilościową, skanowanie długości fali, testy kinetyczne, analizę DNA/białek, weryfikację długości fali, przechowywanie danych i drukowanie.
Główne cechy
- Szeroki zakres długości fal UV-Vis: Pomiar w zakresie 190–1100 nm, obejmujący zarówno zastosowania w ultrafiolecie, jak i w zakresie widzialnym.
- Niezawodny system optyczny z pojedynczą wiązką: Zoptymalizowana ścieżka optyczna i siatka 1200 linii/mm zapewniają stabilną i spójną wydajność pomiaru.
- Wiele trybów pomiaru: Obsługuje pomiary fotometryczne, analizę ilościową, skanowanie długości fali, analizę kinetyczną, testy DNA/białek i obliczanie stężenia.
- Automatyczne ustawianie długości fali: Automatyczna kalibracja i ustawianie długości fali upraszczają codzienną obsługę.
- Przejrzysty wyświetlacz LCD: Duży wyświetlacz LCD zapewnia przejrzysty dostęp do wyników pomiarów, menu obsługi, krzywych skanowania i danych analitycznych.
- Przesyłanie i przechowywanie danych przez USB: Interfejs USB obsługuje przesyłanie i przechowywanie danych. Dostępny jest interfejs drukarki do drukowania wyników pomiarów.
- Wymienne lampy deuterowe i wolframowe: Wtykowa konstrukcja lampy umożliwia wygodną wymianę lamp deuterowych i wolframowych bez konieczności regulacji optycznej.
- Elastyczna komora na próbki: Przestronna komora na próbki pomieści kuwety i akcesoria o różnych rozmiarach.
- Wbudowane przetwarzanie danych: Urządzenie obsługuje analizę krzywych standardowych, obliczanie stężeń, pomiary kinetyczne, skanowanie widmowe i przetwarzanie danych przechowywanie.
|
Parametr |
Specyfikacja |
|
Układ optyczny |
Pojedyncza belka |
|
Zakres długości fali |
190–1100 nm |
|
Szerokość pasma widmowego |
1,8 nm |
|
Dokładność długości fali |
±0,5 nm |
|
Powtarzalność długości fali |
0,2 nm |
|
Dokładność fotometryczna |
±0,5%T |
|
Powtarzalność fotometryczna |
0,1%T |
|
Zakres fotometryczny |
−od 0,3 do 3 A |
|
Światło rozproszone |
≤0,05%T przy 220 nm i 360 nm |
|
Stabilność |
±0,001 A/h przy 500 nm |
|
Płaskość linii bazowej |
±0,002 A |
|
Hałas |
±0,001 A |
|
Ustawienie długości fali |
Automatyczny |
|
Prędkość skanowania |
Szybko, Średnio i Wolno |
|
Źródło światła |
Lampy deuterowe i wolframowe |
|
Detektor |
Fotodioda krzemowa |
|
Wyświetlacz |
Wyświetlacz LCD 320 × 240 punktów |
|
Interfejs danych |
USB |
|
Interfejs drukarki |
Port równoległy |
|
Zasilacz |
Prąd zmienny 220 V/50 Hz lub prąd zmienny 110 V/60 Hz |
Typowe zastosowania
Nadaje się do laboratoriów, analizy chemicznej, badań biochemicznych, analizy środowiska, testowania żywności, badań farmaceutycznych, kontroli jakości, analizy DNA/białek oraz rutynowych pomiarów absorbancji lub transmitancji.
Uwaga: Jeśli podajesz wersję na PC, użyj JFUVS00002 w tytule i określ, że oprogramowanie na PC jest dołączone lub dostępne w zależności od rzeczywistej konfiguracji.